技术特点

是采用X射线计算机断层扫描技术，对植物种子、果实、花朵、叶片、茎杆、根系等进行三维透射扫描的系统。该技术采用高性能X射线源，分辨率达到微米级或亚微米级。自动对焦功能配合管头及阳极靶材冷却系统，确保焦点尺寸和位置的高稳定性。X射线源在高电压和高功率的工作情况下，依然能保证系统的高分辨率和高测试精度。

典型测量结果

应用领域

采用X射线计算机断层扫描技术，对植物种子、果实、花朵、叶片、茎杆、根系等进行三维透射扫描的系统。 高分辨率深层表型测量系统可以在不破坏样品（无需染色、无需切片）的情况下，获得高精度三维表型图像，显示样品内部详尽的三维信息，并进行结构、密度的定量分析，适用于观察植物表型参数和植物活体组织的细胞结构，近年来被广泛应用于结构学、组织学、生物学、表型组学等研究领域。